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上海菁华紫外可见分光光度计756CRT技术参数
更新时间:2016-10-07
上海菁华紫外可见分光光度计756CRT技术参数:波长范围:200-1000nm波长设定范围:190-1100nm波长准确度:±0.5nm波长重复性:0.2nm光谱带宽:2nm透射比准确度:±0.5%T透射比重复性:0.2%T 应用软件:支持透射比范围:0.0-125%T
上海菁华紫外可见分光光度计756CRT技术参数的详细资料
名 称:紫外可见分光光度计
型 号:756CRT
品 牌:菁华
产 地:上海
上海菁华紫外可见分光光度计756CRT
采用低杂散光1200条/mm高性能光栅,C-T式单色器结构,确保仪器的高分辨率、低杂散光、波长的高精度、良好的光度线性。
*的波长控制系统,可自动设置波长,并具有先进的自动修正波长功能。
采用进口的光电转换器。
除具有光度测试外还具有定量测试功能,采用标准品对照法、标准系数法和线性回归法来直接测定样品浓度。
可供物理学、化学、医学、生物学、药物学等学科进行科研或供化学工业、食品工业、制药工业、冶金工业、临床生化、环境保护部门对各种物质的定量分析用。
上海菁华紫外可见分光光度计756CRT技术参数:
波长范围:200-1000nm
波长设定范围:190-1100nm
波长准确度:±0.5nm
波长重复性:0.2nm
光谱带宽:2nm
透射比准确度:±0.5%T
透射比重复性:0.2%T 应用软件:支持
透射比范围:0.0-125%T
吸光度范围:-0.301-3A
浓度显示范围:0-99999
杂散光:≤0.3%T@220nm,360nm
稳定性:±0.002A/小时
配有RS232通讯接口
打印机:配备
应用软件:支持
756CRT紫外可见分光光度计同系列参数
型 号 | 波长(nm) | 带宽(nm) | 误差(nm) | 漂移 |
752(手动) | 200-1000 | 4 | ±2 | ±0.003A |
752(自动) | 200-1000 | 4 | ±2 | ±0.002A |
754(手动) | 200-1000 | 4 | ±1 | ±0.002A |
754(自动) | 200-1000 | 4 | ±1 | ±0.002A |
754PC | 190-1100 | 4 | ±1 | ±0.002A |
755B(手动) | 195-1100 | 2 | ±1 | ±0.002A |
755B(自动) | 195-1100 | 2 | ±1 | ±0.002A |
756 | 190-1100 | 2 | ±0.5 | ±0.002A |
756MC | 190-1100 | 2 | ±0.5 | ±0.002A |
756CRT | 190-1100 | 2 | ±0.5 | ±0.002A |
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